ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器光纖包層直徑125-720um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）
ProView LD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為125至720µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的，在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView LD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。

產(chǎn)品型號：IF-02-01004

更新時間：2025-02-27

廠商性質：經(jīng)銷商

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光纖/光纖器件/光纖處理

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ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器光纖包層直徑125-720um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）

ProView LD是一款高度先進的干涉儀，用于精確測量和檢查直徑為125至720µm的光纖端面。干涉儀是專門為生產(chǎn)線設計的，在生產(chǎn)線中需要簡單、快速和非常準確的端面檢測。但ProView LD也非常適合研發(fā)環(huán)境和連接器維護目的。在許多情況下，干涉條紋圖案可以非常復雜地進行分析和理解。為了便于使用和優(yōu)化檢查速度，ProView LD包括高度先進的全自動功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。軟件會自動指示端面的半徑和角度。為了進一步簡化檢查過程，ProView LD可以設置為“通過/未通過"模式。此功能允許操作員通過圖像上的顏色代碼簡單地確定端面質量。除了角度和半徑檢查外，ProView LD還可用于測量其他一些特性，如光纖直徑和定義點之間的距離等。

用于LD80連接器的ProView LD配有預裝的標準LD80連接器支架。還有可用于檢查其他標準連接器（如SMA、FC/PC和ST/PC）的可選支架，以及用于檢查裸光纖的通用v形槽夾具組件。可根據(jù)要求提供定制支架或夾具。ProView LD設計緊湊，是生產(chǎn)臺的理想選擇，可與切割機、拋光臺、超聲波清潔器和其他準備工具并排使用。ProView LD通過USB 3.0電纜連接并供電，由外部PC（不包括在內）托管。

ProView™ LD 光纖端面質量檢測干涉儀/顯微鏡 (用于連接器光纖包層直徑125-720um)（光纖研磨拋光/切割剝離器）

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